광학-열-구조 연성 상태장과 정량 광학 측정값의 관측 연산자 기반 반복 정합을 이용한 시편 상태추정, 잔여수명 예측 및 적응형 측정 제어 방법 및 시스템 (Method and system for specimen state estimation, remaining useful life prediction, and adaptive measurement control using observation-operator-based iterative matching

Authors

옥종걸, 김용태, 이준석, 이민섭

Country

KR

Application# (Date)

10-2026-0161738 (Aug 27, 2026)

Category

Patents